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日立 EA1000VX X射线荧光分析仪

对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。
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概要:

对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。


特点:

1. 快速测量

与之前的机器SEA1000AII相比,每个样品的测量时间*都缩短了。例如,树脂类样品测量时间缩短了约1/3,金属类则缩短了1/10。实现了处理量(每天可测样品数量)的飞跃性提高。


 
塑料中的
Cd,Pb,Hg,Br,Cr

高浓度BrSb塑料中的

Cd,Pb,Hg,Cr

黄铜中的
Cd,Pb,Hg,Br,Cr
EA1000VX

约30秒

 120秒以内 200秒以内
SEA1000AII  约100秒 360秒以内 2000秒以上

 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间(平均值)

*Cd为20 ppm,除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最低限所必要的总共时间。(本公司推荐条件下实施)


2. 高技术率检测器(Vortex)

不需要液氮,使用最大15万cps的高计数率检测器(Vortex)测量高灵敏度化,实现快速测量及高精度测量等。


3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能,强化了有害物质测量功能—材料判断功能

测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往,在测量前需要选择分析菜单,由于装置可以自动判断材质,不会在选择分析菜单时感到迷茫。

 

 

4. 提高操作性—操作面板

根据操作面板的指示器和提示音,了解测量进度。根据测量面板的进度条,把握测量进展。

 

 

5. 各种环境限制用的标准物质

除RoHS指令的管理对象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。

 

 

6. 自动进样器(选购项)

自动进样器最多可连续测量12个样品。

 

 

7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理

使用精度管理软件使测量时间变短,通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理(检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成),可测量检查的效率,达到消减成本。

 

 

型号名称:EA1000VX


测量元素:原子序数13(Al)~92(U)
样品形态:固体、粉末、液体
射线源:X射线管球(Rh靶材)    
管电压:最大50kV  管电流:最大1000μA
检测器:多阴极半导体检测器
分析领域:Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)
样品观察:彩色CCD摄像头
滤波器:5种模式自动切换
样品室:370(W) ×320(D) ×120(H)mm
定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示
定量分析:块体校准曲线、块体FP法
有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy   
                             材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等
数据处理:配备EXCEL、配备WORD
外形尺寸:520(W)×600(D)×445(H)mm
安装尺寸:1500(W)×1000(D)
重量:约60kg
使用电源(主机):AC100~240V±10%单相
选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质